微电子器件及光电子器件可靠性物理：研究半导体器件包括GaN HEMT，SiC功率器件；Si基功率器件的失效机理研究，以及航天高可靠性应用的关键器件寿命预测技术。微电子器件及系统热可靠性评价关键技术：无损半导体器件瞬态温升及热阻测试技术研究，以及商用测试仪的开发等。新型半导体器件制备与特性研究：GaN基HEMT器件设计与性能改进技术研究；InGaAs 红外探测器阵列研究；ZnO紫外探测器研究等。集成电路（FPGA等）在线无损温度测量技术研究：利用构建内在门电路作为测温传感器，无损、在线获取集成电路温度分布的相关技术研究，功率器件的在线温升测试技术研究。