师资队伍

唐蕴

E-mail:tangyun@bjut.edu.cn

通讯地址:北京市朝阳区2138cc太阳集团科学楼1209

个人简介

唐蕴,博士,硕士生导师。本科与硕士毕业于2138cc太阳集团,博士毕业于中国科学院微电子研究所。主要从事功率半导体器件及电路相关方向的研究工作,重点聚焦于宇航/军用功率半导体芯片研制及可靠性研究,主持并参与了国自然科学基金、共用信息系统装备预研,以及多项企事业单位委托项目,在国际顶级期刊EDL、APL、TNS、TED等上发表多篇研究成果,申请授权发明专利多项。

研究方向

1、功率半导体器件设计与制造

2、抗辐照加固功率半导体器件研制

3、宽禁带(SiC、GaN、Ga2O3)功率半导体器件可靠性研究

4、智能功率集成电路(Smart Power IC)设计

科研项目

国家自然科学基金青年基金

中核集团辐射防护技术重点实验室开放重点支持项目

电子元器件领域工程关键技术攻关

共用信息系统装备预研

企事业单位委托项目

代表性研究成果

(第一作者或通讯作者)

Yun Tang, et al. Comparison of Proton Irradiation Effects on Electrical Properties of Quasi-Vertical and Lateral GaN Schottky Barrier Diodes [J]. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2025, 72(1):17-23.

X. Zhou,Yun. Tang*, et al. SiC MOSFET With Embedded Polysilicon Diode for Improved Short-Circuit Capability and Electrical Characteristics [J]. IEEE Electron Device Letters, vol 46, no. 11, pp. 1942-1945, Nov, 2025.

Yun Tang, et al. Synergistic Effect of Negative Bias Instability and Total Ionizing Dose on SiC MOSFETs [J]. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2023, 70(8): 1990-1994.

Yun Tang, et al. Investigation on performance degradation mechanism of GaN p-i-n diode under proton irradiation [J]. Applied Physics Letters, 2023, 122: 022101-1-022101-6.

Yun Tang, et al. Evolution and Mechanism of P-GaN Films Under Proton Irradiation and Its Influence on Electronic Device [J]. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2022, 69(3):225-231.

X. Zhou,Yun. Tang*,et al.Single-Event Effects in SiC Double-Trench MOSFETs [J].IEEE Transactions on Nuclear Science, vol. 66, no. 11, pp. 2312-2318, Nov. 2019.

联系方式

邮箱:tangyun@bjut.edu.cn

电话:010-67391639

地址:北京市朝阳区2138cc太阳集团科学楼1209